一,滿足試驗標準:
AEC Q101(車規級芯片)
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法Cx:不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環境試驗.第2-66部分:試驗方法.試驗Cx:穩態濕熱
JESD22-A100循環的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩態溫度,濕度/偏壓,壽命試驗(溫濕度偏壓壽命)
JESD22-A102高壓蒸煮試驗(加速抗濕性滲透)
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
二,應用領域:
?PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規級芯片……
?
威邦儀器-HAST高壓加速壽命老化箱:
1.內膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象,從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊,影響試驗結果。
2.產品滿足JESD22-A100至A118偏壓(BHAST)或不偏壓(UHAST)加速抗濕性試驗以及飽和高壓蒸汽(蒸煮)試驗。
3.產品兼容高加速溫濕度應力HAST老化試驗和高壓蒸煮PCT抗濕性試驗。
HAST高壓加速壽命老化箱 | |||||
型號Model | WBE-HAST-30 | WBE-HAST-40 | WBE-HAST-55 | WBE-HAST-65 | |
容積(L) | 31 L | 69 L | 154 L | 248 L | |
內箱尺寸 (mm) |
直徑φ | 350 | 400 | 550 | 650 |
深D | 450 | 550 | 650 | 750 | |
外箱尺寸 (mm) |
寬W | 700 | 700 | 850 | 950 |
深D | 1000 | 1000 | 1150 | 1350 | |
高H | 1710 | 1710 | 1760 | 1860 | |
性能指標 | 溫度范圍 | A: +100~+143℃; B: +100~+156℃ |
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濕度范圍 | 60%~100%RH | ||||
壓力范圍 | A:0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa); B:0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa) |
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溫度均勻度 | ≤±2℃ | ||||
溫度波動度 | ≤±0.5℃ | ||||
濕度波動度 | ≤±2 % R.H | ||||
濕度偏差 | ≤±3 % R.H | ||||
溫度偏差 | ≤±2℃ | ||||
壓力偏差 | ≤±2Kpa | ||||
升溫時間 | 常溫~+ 143℃ 約45 min ;常溫~+ 156℃ 約55 min | ||||
升壓時間 | 常壓~+ 3kg/cm² 約35 min,外部氣源加壓:約5 min | ||||
功率 | 2.8KW | 3.2KW | 4KW | 5KW | |
箱體材質 | 內箱 | SUS #316不銹鋼 | |||
外箱 | 冷軋鋼板+雙面靜電噴塑工藝處理 | ||||
保溫 | 超細玻璃棉 | ||||
噪音 | ≤60(dB) | ||||
控制器 | 7寸彩色觸摸屏控制器(帶壓力溫濕度,帶RS-485或RS-232通訊,USB烤數據) | ||||
分辨率 | 溫度:0.01℃;濕度:0.1%RH;壓力:0.1 kg/cm²; | ||||
加壓方式 | 1.鍋爐蒸汽加壓;2.外部氣體加壓 | ||||
BIAS偏壓端子 | 含偏壓端子(選配訂購時需注明) | ||||
使用條件 | 環境溫度:+5℃~+35℃;環境濕度:≤85%RH;環境大氣壓要求:86KPa~106KPa | ||||
電源 | AC220V 50/60Hz | ||||
保護裝置 | 1.超溫保護,2.風機超載保護,3.箱門壓力保護,4.缺水保護,5.溢水保護,6.加熱器空焚保護, 7.加熱器超載保護,8.電源缺相保護,9.過電流保護,10.短路漏電等保護 |
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型號說明 |