產品說明
HAST高壓加速壽命老化箱用于評估電子元器件、PCB、芯片產品等在高溫，高濕，高氣壓條件下對環境的抵抗能力，通過加速其失效過程，加速因子在幾十到幾百倍之間，此類極端的加速模擬可靠性測試，便于確定產品或器件的極限工作條件，更容易提前發現產品失效模式，并且縮短產品或系統的壽命試驗時間，為量產驗證贏得時間。
產品別名：
雙層式HAST高壓加速壽命老化箱，兩槽式HAST加速壽命試驗裝置，雙腔體HAST老化箱，兩層式HAST高壓加速老化箱
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威邦雙層式-HAST高壓加速壽命老化箱：英文名2-Zone HAST CHAMBER，用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗。
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? 高效的雙腔體設計，WBE先進的HAST設備集高溫高濕85℃/85%R.H、95℃/95%R.H 、PCT、HAST功能于一體。
? 獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。
? 超長實驗運轉時間，設備可持續運轉400+小時。
? 快速排氣模式，試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩定性、再現性。
AEC Q101
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩態濕熱
JESD22-A100循環的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩態溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗濕性滲透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
| HAST高壓加速壽命老化箱（雙腔式） | ||||
| 型號Model | WBE-2HAST-35 | |||
| 內箱尺寸 單個腔體 （mm） |
直徑φ | 350 | ||
| 深D | 450 | |||
| 外箱尺寸 （mm） |
寬W | 700 | ||
| 深D | 1000 | |||
| 高H | 1900 | |||
| 性能指標 | 溫度范圍 | A： +100~+143℃；B： +100~+156℃ | ||
| 濕度范圍 | 60%~100%RH | |||
| 壓力范圍 | A：0.2~3kg/cm2 (0.018~0.294Mpa)；B：0.2~4kg/cm2 (0.018~0.394Mpa) | |||
| 溫度均勻度 | ≤±2℃ | |||
| 溫度波動度 | ≤±0.5℃ | |||
| 濕度波動度 | ≤±2 % R.H | |||
| 濕度偏差 | ≤±3 % R.H | |||
| 溫度偏差 | ≤±2℃ | |||
| 壓力偏差 | ≤±2Kpa | |||
| 升溫時間 | 常溫～+ 143℃ 約45 min ；常溫～+ 156℃ 約55 min? | |||
| 升壓時間 | 常壓～3kg/cm2? 約35 min，外部氣源加壓：約5 min | |||
| 功率 | 5.6KW | |||
| 箱體材質 | 內箱 | SUS #316不銹鋼 | ||
| 外箱 | 冷軋鋼板+雙面靜電噴塑工藝處理 | |||
| 保溫 | 超細玻璃棉 | |||
| 噪音 | ≤60（dB） | |||
| 控制器 | 7寸彩色觸摸屏控制器（帶壓力溫濕度，帶RS-485或RS-232通訊，USB烤數據） | |||
| 分辨率 | 溫度：0.01℃；濕度：0.1%RH；壓力：0.1 kg/cm2； | |||
| 加壓方式 | 1.鍋爐蒸汽加壓；2.外部氣體加壓 | |||
| BIAS偏壓端子 | 含偏壓端子（選配訂購時需注明） | |||
| 使用條件 | 環境溫度：+5℃~+35℃;環境濕度：≤85%RH；環境大氣壓要求：86KPa～106KPa | |||
| 電源 | AC220V 50/60Hz | |||
| 保護裝置 | 1.超溫保護，2.風機超載保護，3.箱門壓力保護，4.缺水保護，5.溢水保護，6.加熱器空焚保護，7.加熱器超載保護，8.電源缺相保護，9.過電流保護，10.短路漏電等保護 | |||
| 型號說明 |
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產品詳情
產品特點
技術規格
威邦實力
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